W książce pokazano kilka praktycznych metod opracowania danych dyfrakcji rentgenowskiej (XRD) pozwalających na ocenę średniego rozmiaru nanokryształów, rozkładu ich wielkości oraz ich błędów pomiarowych. Opisano też techniki obliczeniowe pozwalające na wyznaczenie widm dyfrakcyjnych nanoproszków z dowolną strukturą politypową oraz błędami ułożenia. Read More …