PDF 16MB
Tytuł: “Nanodyfrakcja rentgenowska” Autor: Roman Pielaszek Wersja: 0.1 Stron: 187
Copyright: Roman Pielaszek ISBN: 83-89585-47-2
W książce pokazano kilka praktycznych metod opracowania danych dyfrakcji rentgenowskiej (XRD) pozwalających na ocenę średniego rozmiaru nanokryształów, rozkładu ich wielkości oraz ich błędów pomiarowych. Opisano też techniki obliczeniowe pozwalające na wyznaczenie widm dyfrakcyjnych nanoproszków z dowolną strukturą politypową oraz błędami ułożenia.
You may take a risk of an automated translation of the book:
Polish 
English 
Chinese (Simplified) 
French 
German 
Hungarian 
Italian 
Latin 
Portuguese 
Spanish
Wyłączenie odpowiedzialności
“Nanodyfrakcja rentgenowska” to brudnopis książki, która najpewniej nie będzie dokończona, dlatego zostaje udostępniona “jak jest”, dla minimalnego choćby pożytku Czytelnika. Może zawierać (i na pewno zawiera) braki oraz błędy, od odpowiedzialności za które autor niniejszym uchyla się.
Licencja
Tej kopii można używać do celów stricte osobistych (nie zawodowych), tylko w wersji elektronicznej na urządzeniu będącym prywatną własnością Czytelnika. W pozostałych przypadkach zabrania się użytkowania, w tym: wyświetlania, zapisu, przechowywania, utrwalania, kopiowania, modyfikacji, drukowania, udostępniania, rozpowszechniania, prezentacji tak w całości jak i we fragmentach. Licencje pozbawione ograniczeń można szybko nabyć w cenie kilkudziesięciu złotych kontaktując się pod adresem licensing.ac.pr@pielaszek.com (kliknij tutaj).