Tytuł: “Nanodyfrakcja rentgenowska” Autor: Roman Pielaszek Wersja: 0.1 Stron: 187
Copyright: Roman Pielaszek ISBN: 83-89585-47-2
W książce pokazano kilka praktycznych metod opracowania danych dyfrakcji rentgenowskiej (XRD) pozwalających na ocenę średniego rozmiaru nanokryształów, rozkładu ich wielkości oraz ich błędów pomiarowych. Opisano też techniki obliczeniowe pozwalające na wyznaczenie widm dyfrakcyjnych nanoproszków z dowolną strukturą politypową oraz błędami ułożenia.
You may take a risk of an automated translation of the book:
Polish
English
Chinese (Simplified)
French
German
Hungarian
Italian
Latin
Portuguese
Spanish