Omówienie wyników pomiarów hałasu Południowej Obwodnicy Warszawy (S2) i ocena zabezpieczeń w rejonie węzła Patriotów

Omówiono pomiary hałasu w pobliżu Południowej Obwodnicy Warszawy (POW) zlecone przez Gminę Wawer na przykładzie punktu pomiarowego przy ul. Popiołów/Mszańskiej oraz sąsiedniego punktu przy ul. Bonisławskiej. Stwierdzono powszechne i drastycznie przekroczenie norm hałasu. Przedstawiono analizę sekundowych danych głośności POW. Analiza wykazała nieakceptowany poziom uciążliwości POW dla mieszkańców spowodowany hałasem.
Przedstawiono zastosowane w POW metody ochrony przed hałasem. Wykazano, że przygotowany na potrzeby inwestycji model propagacji hałasu jest wadliwy. W wyniku użycia wadliwego modelu zanie- dbano instalacji wielu zabezpieczeń, w tym ekranów akustycznych i wałów ziemnych, zaś istniejące są często zbyt niskie.
Na skutek błędów w modelu dopuszczono do powstania przerw w ekranowaniu, które niweczą działanie sąsiadujących ekranów (strata pieniędzy).
Zaproponowano szereg koniecznych poprawek, w tym: budowę brakujących ekranów (optymalnie tu- nelu jak na Trasie Toruńskiej), usunięcie nieciągłości ekranowania, podniesienie wysokości ekranów, przeprojektowanie krawędzi ekranów, pokrycie nawierzchni drogi nowoczesną warstwą dźwiękochłonną, wprowadzenie ograniczenia szybkości w rejonach zamieszkanych wraz z odcinkowym pomiarem szybkości.
Dla uniknięcia kolejnych błędów, postuluje się też włączenie przedstawicieli zainteresowanych mieszkań- ców oraz Gminy Wawer do procesu projektowania brakujących zabezpieczeń przeciwhałasowych. Read More …

Nanodyfrakcja rentgenowska (książka) [PL]

W książce pokazano kilka praktycznych metod opracowania danych dyfrakcji rentgenowskiej (XRD) pozwalających na ocenę średniego rozmiaru nanokryształów, rozkładu ich wielkości oraz ich błędów pomiarowych. Opisano też techniki obliczeniowe pozwalające na wyznaczenie widm dyfrakcyjnych nanoproszków z dowolną strukturą politypową oraz błędami ułożenia. Read More …

XRD NanoProcessor -7- Bad Data Examples

Example of processing bad data with X-Ray Diffraction (XRD) Nano Processor Demo. The routine should break calculation to avoid seriously incorrect conclusions. Read More …

XRD NanoProcessor -6- Examples

Few example of data processing with X-Ray Diffraction (XRD) Nano Processor Demo. Good data and success story is shown in this clip. Read More …

XRD NanoProcessor -5- Sharing results

Video introduction to X-Ray Diffraction (XRD) Nano Processor Demo. This web application allows for Drag & Drop processing of nanopowder (nanocrystalline) diffraction data and obtain grain size distribution in few seconds.

Commentary on sharing results of processing of the XRD data. Read More …

XRD NanoProcessor -4- Band and Coherence distance

Video introduction to X-Ray Diffraction (XRD) Nano Processor Demo. This web application allows for Drag & Drop processing of nanopowder (nanocrystalline) diffraction data and obtain grain size distribution in few seconds.

Commentary on band and coherence distance parameters of the XRD data. Read More …

XRD NanoProcessor -3- Assumptions

Video introduction to X-Ray Diffraction (XRD) Nano Processor Demo. This web application allows for Drag & Drop processing of nanopowder (nanocrystalline) diffraction data and obtain grain size distribution in few seconds.

Commentary on assumptions and limitations while processing the XRD data. Read More …

XRD NanoProcessor -2- Theory

Video introduction to X-Ray Diffraction (XRD) Nano Processor Demo. This web application allows for Drag & Drop processing of nanopowder (nanocrystalline) diffraction data and obtain grain size distribution in few seconds.

Commentary on diffraction theory used for processing the XRD data. Read More …

XRD NanoProcessor -1- Introduction

Video introduction to X-Ray Diffraction (XRD) Nano Processor Demo. This web application allows for Drag & Drop processing of nanopowder (nanocrystalline) diffraction data and obtain grain size distribution in few seconds. Read More …

Sample DataStore System Tray – Video Tutorial

Sample DataStore System Tray application allows for automatic deposition of experimental data into Sample DataStore system. Once installed, it constantly watches selected folders. In case a file has been copied to the folder, the application will deposit the file into Sample DataStore system, in appropriate sample folder. Read More …

XRD: Dyfrakcyjne badania mikrostruktury nanokryształów poddawanych działaniu wysokiego ciśnienia [PL]

Rozprawa poswiecona jest dyfrakcji promieniowania rentgenowskiego na krysztalach nanometrowych. Zostaly w niej omówione zarówno oryginalne wyniki doswiadczalne jak tez nowe podejscie teoretyczne wiazace mikrostrukture nanokrysztaów z natezeniem rozpraszanego promieniowania rentgenowskiego. Zaproponowane przez autora metody badawcze stosuja sie do analizy rozpraszania rentgenowskiego na polikrysztaach submikronowych o dowolnej strukturze krystalicznej. W tej pracy wykorzystano je do opisu i badania nanokrysztaów o strukturze najgestszego upakowania takich jak weglik krzemu, diament oraz azotek galu. Read More …

XRD: FW1/5,4/5M method for evaluation of Grain Size Distribution – on-line calculator

Method FW1/4/5M allows for quick Grain Size Distribution (GSD) calculation. You need to specify two peak widths: measured at 1/5 and 4/5 of maximum of the diffraction peak (FW1/5M and FW4/5M, respectively). The metod takes into account only size-broadening of the diffraction maxima. Read More …