XRD: Nanodyfrakcja rentgenowska (książka)
W książce pokazano kilka praktycznych technik opracowania danych dyfrakcyjnych pozwalających na możliwie dokładną ocenę zarówno średniego rozmiar nanokryształów jak i rozkładu ich wielkości. Opisane będą też techniki obliczeniowe pozwalające na wyznaczenie widm dyfrakcyjnych nanoproszków z dowolną strukturą politypową oraz błędami ułożenia.
Tytuł: “Nanodyfrakcja rentgenowska” Autor: Roman Pielaszek Wersja: 0.1 Stron: 187 ISBN: 83-89585-47-2
- XRD: Dyfrakcyjne badania mikrostruktury nanokryształów poddawanych działaniu wysokiego ciśnienia
Niniejsza rozprawa poswiecona jest dyfrakcji promieniowania rentgenowskiego na krysztaach nanometrowych. Zostay w niej omówione zarówno oryginalne wyniki doswiadczalne jak tez nowe podejscie teoretyczne wiazace mikrostrukture nanokrysztaów z natezeniem rozpraszanego promieniowania rentgenowskiego. Zaproponowane przez autora metody badawcze stosuja sie do analizy rozpraszania rentgenowskiego na polikrysztaach submikronowych o dowolnej strukturze krystalicznej. W tej pracy wykorzystano je do opisu i badania nanokrysztaów o strukturze najgestszego upakowania takich jak weglik krzemu, diament oraz azotek galu. - XRD: Manual for Method FW1/5,4/5M of determination of the Grain Size Distribution from a Peak Profile of the Powder Diffraction Pattern
Manual on how to use new FW1/5,4/5M method of determination of the Grain Size Distribution from a X-Ray diffraction peak profile is presented. - Paper (preprint) R.Pielaszek – Analytical expression for Diffraction Line Profile for polydispersive powders
- Paper (preprint) R.Pielaszek – FW15-45M method for determination of the Grain Size Distribution from powder diffraction line profile