W książce pokazano kilka praktycznych metod opracowania danych dyfrakcji rentgenowskiej (XRD) pozwalających na ocenę średniego rozmiaru nanokryształów, rozkładu ich wielkości oraz ich błędów pomiarowych. Opisano też techniki obliczeniowe pozwalające na wyznaczenie widm dyfrakcyjnych nanoproszków z dowolną strukturą politypową oraz błędami ułożenia. Read More …
Rozprawa poswiecona jest dyfrakcji promieniowania rentgenowskiego na krysztalach nanometrowych. Zostaly w niej omówione zarówno oryginalne wyniki doswiadczalne jak tez nowe podejscie teoretyczne wiazace mikrostrukture nanokrysztaów z natezeniem rozpraszanego promieniowania rentgenowskiego. Zaproponowane przez autora metody badawcze stosuja sie do analizy rozpraszania rentgenowskiego na polikrysztaach submikronowych o dowolnej strukturze krystalicznej. W tej pracy wykorzystano je do opisu i badania nanokrysztaów o strukturze najgestszego upakowania takich jak weglik krzemu, diament oraz azotek galu. Read More …
Method FW1/4/5M allows for quick Grain Size Distribution (GSD) calculation. You need to specify two peak widths: measured at 1/5 and 4/5 of maximum of the diffraction peak (FW1/5M and FW4/5M, respectively). The metod takes into account only size-broadening of the diffraction maxima. Read More …
Video about extraction of search results and pasting into Excel
